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单nand写入方法 新增NAND写入算法:跳过坏块并重建坏块表
发布时间 : 2024-11-23
作者 : 小编
访问数量 : 23
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新增NAND写入算法:跳过坏块并重建坏块表

宝剑锋从磨砺出,梅花香自苦寒来;

博观而约取,厚积而薄发。

有心的小伙伴可能在最新的软件版本里会看到,写入NAND时增加了一个新的算法:跳过坏块并重建坏块表

以海信5079板,MSD6A801芯片方案为例,先给大家演示RT809H写入NAND新算法。

先找一片坏块较多的Nand芯片,按方向放入RT809H编程器,锁好锁紧座。

点智能识别,选择NAND Falsh,稍等会自动识别到相同ID的芯片型号。

识别出两个芯片型号,选择跟芯片型号一致的K9K8G08U0D@TSOP48。

我们先点一下坏块检测,看看此芯片的坏块分布(坏块检测会破坏NAND芯片内数据,谨慎使用)。

检测到23个坏块,严格来说,基本算是残次品。

点设置,出现三个选项,硬拷贝;跳过坏块并重组数据;跳过坏块并重建坏块表。此板请选择“跳过坏块并重建坏块表 ”。

点写入,选择备份文件,开始自动写入。

可以看到界面上已经显示算法为“跳过坏块并重建坏块表”。

开始写入,耐心等待。。。

写入完成,接下来对写入后的NAND芯片进行验证,先把NAND芯片装回电视板卡。

连接上串口,同时监控打印信息。

通电,看到正常进入系统。同时监控显示画面,直到启动完成。

操作遥控,各项功能正常!

由于NAND使用领域的多样性和NAND自身的特殊性,坏块管理都不尽相同,就拿电视主板来说,我们通过大量板卡测试,和大量时间做了深入研究,发现不同的电视厂家,使用的坏块管理算法都不同,我们特此汇总了三种不同的算法,经过测试已经解决了目前在中国能够见到的电视主板NAND写入问题

NAND_AUTO读写芯片时,符合ONFI标准的芯片,读写成功率较高,比如海力士、镁光、ST、华邦等,而三星、东芝等厂商未加入此标准化组织,所以有可能参数识别错误导致读写后不能用,请提交NAND_AUTO读取得到的ID给我们,添加对应的芯片型号即可解决问题

国外用户如果遇到NAND读写问题,请提供好的板卡给我们测试。

没有哪种算法可以解决所有NAND复制问题,只能是遇到问题再研究新算法来解决问题。iFix爱修一直致力于为维修行业解决难题。

最近发现大家都在问一个比较实际的问题:RT809H以后会不会想其他编程器厂家一样,相同封装、不同型号的NAND芯片,使用不同的转接座?转接座的写入次数是多少?

这里是正式回答:RT809H编程器写入所有TSOP48封装的NAND芯片,只需要TSOP48通用座就可以了,永远不会限制写入次数!

视频演示,腾讯视频网址: https://v.qq.com/x/page/h0737szc7xu.html

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闪存性能和耐久度不堪入目?别慌,新一代超高性能闪存来了

在闪存容量越来越大的同时,性能成为成本妥协的牺牲品。正如大家看到的历史,从SLC、MLC、TLC直到QLC和未来PLC,NAND闪存的性能、耐久度都会衰减。为了填补闪存和内存之间逐渐拉大的差距,高性能闪存的需求不断增长。

日本网站PC Watch近日整理了铠侠(原东芝存储)在今年2月18日于ISSCC国际固态电路峰会上的演讲内容,披露了大量关于铠侠XL-Flash超高速闪存芯片的信息。

XL-Flash是继英特尔3D XPoint、三星Z-NAND之后的又一个新型高速闪存技术。与3D XPoint所属的PCM技术相比,基于NAND的XL-Flash能随堆叠层数增长提供良好的成本收益。目前公布的信息显示,初代XL-Flash将使用96层堆叠技术,单die容量达到128Gb。

铠侠还将XL-Flash与三星的Z-NAND进行了对比。占据后发优势的XL-Flash在存储密度(Capacity)和写入延迟(tProg)上拥有明显优势,仅读取延迟(tR)比Z-NAND稍大一些。XL-Flash和Z-NAND都有比普通3D TLC闪存强出多倍的性能指标。

XL-Flash使用SLC(1bit/cell)结构,单个Page大小也从3D TLC闪存的16KB降低到4KB,使用16平面结构(8倍于BiCS4 3D TLC)。平面数量的增多缩短了闪存中字线和位线的长度,使闪存访问速度更快。

下图是96层堆叠的3D TLC闪存(左)和XL-Flash(右)对比,XL-Flash中外围电路与硅芯片的比例更大、更复杂。

从基础原理上来说,铠侠推出的XL-Flash并没有脱离它的前身东芝存储在1987年发明的NAND闪存。不过XL-Flash并不是简单的3D SLC闪存,由它制成的固态硬盘性能将明显优于当前固态硬盘的SLC缓存部分,特别是低队列深度下的随机读写IOPS(这部分也是傲腾SSD的魅力)。

XL-Flash将存储单元阵列划分成16个平面,从而令字线延迟时间减少到原有的1/20左右。此外,针对平面接地电位以及温度补偿电路的优化也对降低读取延迟带来帮助。最终的结果是XL-Flash的读取延迟仅有普通3D TLC闪存的5%。

为了提升写入性能,铠侠在XL-Flash中将编程准备时间(PP)缩短到过去的三分之一,并优化编程和验证的操作顺序,使得原本需要200至300μs的编程时间缩短到75μs。

普通消费者不一定关心技术的具体实现方法,但也有好消息带给大家,铠侠对XL-Flash超高性能闪存采取了较为开放的态度(而不是像傲腾和Z-SSD那样封闭),这意味着可以有众多的主控去支持它,从而产生更加丰富的终端产品。根据之前的消息,XL-Flash闪存将在今年内完成出样。

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