新型iPhone 7不开机的维修思路，这个应该比较全面

1.不开机维修首先测量PMU（电源IC的输出的各路供电的电压以及二级值）

信号

中文名称

电压

阻抗

二极值

测量点

PP_BATT_VCC

电池电压

2.9

1.39M

0.55

TP0415/TP0422

PP_VDD_MAIN

主供电

0.26

1.2M

0.554

C1857

PP_CPU_VAR

CPU供电

0.75

7.1

0.008

TP1402

PP_GPU_VAR

CPU GPU供电

0

7.1

0.007

TP1401

PP_SOC_VAR

CPU内核供电

0.67

8.8

0.01

C1822

PP1V8_SDRAM

CPU暂存供电

1.8

51K

0.29

C1823

PP1V8

1.8V供电

1.79

45K

0.342

C1602

PP1V1_SDRAM

CPU暂存供电

1.1

516

0.29

C1874

PP1V1

CPU 1.1V供电

1.1

0.37K

0.313

C1528

PP0V9_SOC_FIXED

CPU 0.9V供电

0.9

28

0.04

C1840

PP_CPU_SRAM_VAR

CPUSRAM 供电

0.8

80

0.371

C1458

PP_GPU_SRAM_VAR

GPU SRAM供电

0

370

0.36

C1439

PP1V2_SOC

PP1.2VCPU供电

1.2

63K

0.528

C1927

PP1V2_REF

CPU 1.2V参考电压

1.2

58K

0.64

C1932

PP1V1_XTAL

CPU 24M 晶振电压

1.1

0.321K

0.313

C0704

PP1V2_SOC_PCIE_REFBUF

PP1.2VCPU供电

1.2

59K

0.534

C0802

PP1V25_BUCK

电源IC1.25V电压

1.24

50K

0.57

C1804

PP3V0_TRISTAR_ANT_PROX

3V感光供电

3

78K

0.4

C1933

PP1V8_ALWAYS

待机1.8V电压

1.79

33K

0.617

C1925

PP3V0_NAND

（硬盘的3V供电）

3

1.2M

0.42

C1719

PP0V9_NAND

（硬盘的0.9V供电）

0.9

1.3M

0.27

C1704

PP_VDD_BOOST

(BOOST放大电)

4.26V

1.5M

0.385

C2303

PP1V8_TOUCH

(1.8V触摸电压）

1.8

476K

0.552

C3932

PP1V8_VA

（1.8V音频供电）

1.8

206K

0.385

C3209

PMU_VPUMP

（电源IC内部电压测试）

4.5

13.61M

0.776

C1902

PP0V9_SOC_FIXED_PCIE

CPU0.9V内核电压

0.9

33.4

0.08

C0804

PP1V1_DDR_PLL

CPU的DDR 1.1V供电

1.1

2.2K

0.325

C1523

PP1V2_PLL_CPU

CPU1.2V供电

1.2

420K

0.526

C1606

PP1V2_PLL_SOC

CPU1.2V供电

1.2

419K

0.524

C1609

若以上有二极值或电压异常，需要找到相关的信号及芯片进行分析

2.测量电源IC电压输出是否异常

若测量电源IC输出电压不正常（PP3V0_NAND、PP3V3_USB、PP3V0_TRISTAR_ARC_PROX、PP_VDD_BOOST、PP3V3_ACC等电压同时为1.3V）则优先考虑U2301是否有问题；如下图所示

PP_VDD_BOOST 是为LDO1、LDO3_17、LDO5、LDO6、LDO7_8、LDO11_13进行供电如下图所示，经过BOOST U2301产生的以下供电

当U2301 输出的VDD_BOOST 异常时会影响这些电压的输出包含PP3V0_NAND、PP3V3_USB、PP3V0_TRISTAR_ARC_PROX、PP_VDD_BOOST、PP3V3_ACC导致不开机

3.测量PMU是否完全工作

当PP_VDD_MAIN有电压而PMU不工作首先测量相关的电压信号是否正常若无问题则重点考虑一下信号

(1)PMU_IREF（正常应有1.2V电压）测试 R2011

(2)PMU_VREF（正常应有1.2V电压）测试 C2006

(3)PMU_VDD_RTC（正常应有1.5V电压）测试 C2002

4.如果测量PMU电压跳变

（1）先量测晶振Y0700是否有波形，若不能检测到波形，则优先考虑Y0700是否异常

(2)当除了PP_VDD_MAIN 之外，其他电压都在跳变，甚至PP_VDD_BOOST 都沒電壓，則需量測FL0700是否 损坏,CPU是否虚焊

(3)当除了PP_VDD_MAIN和PP_VDD_BOOST 之外，其他电压都在跳变，则需要考虑AP_TO_PMU_SOCHOT_L是否正常（R2012）

(4)若以上皆无问题，可以考虑下U4001给PMU提供的复位信号TRISTAR_TO_PMU_HOST_RESET是否异常，若该信号导致PMU不停地复位重启同样会导致电压跳变

最后附带电源IC电压供电输出图

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手机进水不开机，iPhone常见故障，换元件后无效，原来问题出在这

现在手机已成为我们生活中必不可少的一部分，但随之而来的，手机维修的故障率也越来越高。今天就接到客户送来一台6S，说的是手机开不了机。

拆机取出主板，上电触发定电流374mA，初步判断LDO供电短路。

断电后对主电源输出的所有供电测对地值，发现硬盘PP3V0_NAND供电对地值为2，供电短路。

观察硬盘周围电容没有明显腐蚀现象，在关联的电容上熏松香，加电烧机发现硬盘非常热，而电容上的松香没有熔化，怀疑硬盘可能有故障。把硬盘取下再次测量3V供电，发现还是短路。3V供电直接加在焊盘上，烧机发现硬盘右下角电容C1515短路。

拆掉后3V供电正常，联机DFU，刷机能进恢复模式。

装回硬盘刷机正常通过，但发现一个问题，机器上电触发后电流直接从0跳变到230mA左右，而且待机灭屏状态下电流有220mA，明显存在漏电。

在使用过程中机器会出现耗电快电池不经用的现象，通常情况下这种问题出在3V供电线路上，于是再次把关联的线路查找了一遍：USB、指南针、感光、感距等，各条线路的对地值都正常，没有发现问题。

显微镜下观察主板，发现主摄像头2.85V供电芯片旁边的电容有腐蚀，测量供电对地值为0，当时觉得很奇怪为什么这路供电短路不会引起接电大电流呢？一定是线路的电感有问题。

经测量发现线路上的保险电感FL3202虚焊了，一端有值另一端为0，重新加焊电感，拆掉腐蚀的电容，线路值正常。

测量3V供电都正常，再仔细观察主板发现进水贴发红，但没有观察到明显进水腐蚀痕迹，这种情况下最大的可能性出在USB管理芯片上，拆掉USB芯片后发现焊盘有进水腐蚀，而且还波及到上方的音频芯片，于是将2个芯片一起进行更换。

更换完后装屏开机，电流跳变正常，灭屏待机电流仅有8mA。

开机直接进系统，手机完美复活。

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