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NAND FLASH 测试夹具 多功能存储芯片的测试:如何提高芯片测试效率?
发布时间 : 2024-11-25
作者 : 小编
访问数量 : 23
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多功能存储芯片的测试:如何提高芯片测试效率?

多功能存储芯片的测试系统硬件设计和实现,各种存储芯片的数据位宽(SRAM、MRAM、NORFALSH、NANDFLASH、EEPROM等。)对结口电路进行了详细的设计(如何将其载入NIOSII总线),以及搭配相应的存储芯片测试座,最终解决了同一个平台测试解决方案中不同数据位宽的各种存储器芯片,并对每个结口的硬件实现方法进行了详细的设计。

存储芯片时序读写

随着电子技术的快速发展,存储器芯片的种类越来越多,其操作方法也完全不同。所以,如果你想测试其中一个存储芯片,需要匹配对应的PIN脚专用存储芯片测试座。各种存储芯片测试系统为SRAM设计,NandFLASH、NorFLASH、MRAM、EEPROM和其它存储芯片进行功能测试,每一类和8、16、32、不同宽度的数据总线,如40。假如每一款产品都设计了一个单独的测试平台,就能想像测试操作的复杂性。

存储芯片时序读写

遂设计了多功能存储芯片测试系统搭载相应的测试设备,如:晶圆封装切割自动摆盘机--TF/UDP ID整盘开卡/识别测试机台--QC外观/容量检测--自动分选机--TF/UDP低格量产测试机台--BGA/EMMC/TSOP存储类芯片测试座/老化座,以简化测试步骤,降低测试复杂性,提高测试效率,降低测试成本,方便快捷地在同一平台下测试所有上述存储芯片。

存储芯片时序读写

原理

根据上述存储器独特的读写时序访问特性,本设计方案通过FPGA的灵活编程特性适当调整了NIOSII的外部总线时序,最终实现了基于NIOSII的外部总线访问各种存储器读写时序的准确操作。通过FPGA自定义一个可以挂载所有存储器芯片的总线接口-ABUS。

时序读写

各种接入测试存储芯片可以通过类别输入信号,在同一接口上自动识别。(CLAS)区分每一个存储芯片对应一个独特的操作时间序列。以下是一些存储芯片的接口连接方式和信号描述。其它存储芯片可以通过类似的连接方式挂载到ABUS总线上,配备各种存储芯片测试座,最后完成测试。

时序读写

40位NANDFLASH与NIOSII通过ABUS(FPGA)桥接,把外部总线的时序完全转换成NANDFLASH的操作时序。

40位NANDFLASH芯片品由五个独立的8位NANDFLASH芯片拼接构成。5个8位器件的外部IO口拼接成40位的外部IO口,而各自的控制线(NCLE,NALE,NRE,NWE)连接在一起构成一组控制线(NCLE,NALE,NRE,NWE),片选相互独立引出成NCS0-NCS9,忙信号独立引出为R/B0-R/B9。

时序读写

40位SRAM与NIOSII连接

40位SRM模块与NIOSII通过ABUS连接,实现正确的时序读写操作。测试时,一次只测试8位,分5次完成所有空间的测试

时序读写

8位SRAM与NIOSII连接

8位SRM模块与NIOSII通过ABUS(FPGA)连接,实现正确的时序读写操作

时序读写

根据深圳谷易电子生产的SSD-flash测试夹具_测试座_烧录座_老化测试座_测试治具_测试机台经验,提供以下各存储芯片测试座(各类存储芯片测试座、老化座、烧录座均有),(仅供参考):

1、BGA152-132转96pin存储芯片测试座

存储芯片测试座

2、BAG169-153 NAND Flash芯片测试座

NAND Flash芯片测试座

3、BGA132 SSD NAND Flash芯片测试座

Flash芯片测试座

4、EMMC存储芯片测试座

EMMC存储芯片测试座

恒烁半导体“一种验证SPIFLASH芯片电应力的夹具”专利公布

集微网消息,天眼查显示,恒烁半导体(合肥)股份有限公司“一种验证SPIFLASH芯片电应力的夹具”专利公布,申请公布日为5月16日,申请公布号为CN116125112A。

图片来源:天眼查

专利摘要显示,本发明涉及芯片测试技术领域,尤其涉及一种验证SPIFLASH芯片电应力的夹具。其包括PCB板和夹持台;夹持台下端设置可转动的支撑杆,上端设置夹持组件和支撑架;夹持组件包括调节件和夹持件;夹持件呈镜像设置在夹持台的两侧,通过调节件调节两侧夹持件的间距;支撑架设置在夹持台的后侧,且位于两侧夹持件之间,支撑架上设置除尘件。

据悉,本发明设置夹持组件对PCB板固定,提高了对SPIFLASH芯片进行电应力验证的便捷性、稳定性。同时PCB板安装、拆卸方便,便于替换,实现对不同SPIFLASH芯片进行电应力验证的需求。

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