NAND闪存这些年:QLC也没那么脆弱
NAND Flash是目前最常见的存储芯片,当其存储密度不断提升的同时,成本也会变得越来越敏感,因为Flash闪存的成本取决于其芯片面积,所以如果可以在同一区域存储更多数据,Flash将更具成本效益。
我们都知道固态硬盘采用闪存颗粒NAND Flash作为存储介质,所以它是固态硬盘中最重要的构成部分,其好坏也就决定着固态硬盘质量的好坏,而我们目前常见的NAND闪存主要有四种类型:Single Level Cell(SLC),Multi Level Cell(MLC)和Triple Level Cell(TLC),还有一种尚未大规模普及的QLC。
860 QVO
现在我们来认识下SLC、MLC、TLC、QLC
不难理解,MLC Flash是可以在与SLC相同的区域中存储更多的数据,同上,TLC则是在相同的区域内能比MLC存储更多的数据,而QLC则是比TLC能存储更多的数据。
区别
在SLC闪存中,每个存储单元仅存储一位信息,这使得读取单元格更快捷,因为磨损的影响小这也增加了单元的耐久性,进而增加了寿命,但其单元成本较高;MLC闪存每个存储器单元存储两位信息,读取速度和寿命都低于SLC,但价格也便宜2到4倍;MLC闪存的低可靠性和耐用性使它们不适合企业应用,创建了一种优化级别的MLC闪存,具有更高的可靠性和耐用性,称为eMLC;TLC Flash每个存储器单元存储3位信息,优势在于成本与SLC或MLC闪存相比要低得多,较适合于消费类应用,而到QLC Flash则是每个存储器单元能够存储4位信息以存储更多的信息,寿命也会相应低于TLC。
3D NAND助力QLC普及
说到这里就不得不提3D NAND,它的原理就是通过在同一晶片上垂直堆叠多层存储器单元,所以能够实现更大的存储密度。
第一批3D Flash产品有24层。随着该技术的进步,已经制造出32,48,64甚至96层3D闪存。3D闪存的优势在于同一区域中的存储单元数量明显更多。这也使制造商能够使用更大的制程工艺节点来制造更可靠的闪存。
3D NAND
一般来说,厂家为了更大的存储容量会使用更先进的制程工艺提升单位面积的存储容量,但由于闪存独特的电子特性,制程工艺越先进,寿命也就会越短,所以TLC在发展过程中会遇到寿命问题,但由于3D NAND是利用了垂直空间,提升容量。所以厂商没有必要使用更先进的制程工艺,转而使用更为老旧的制程工艺保证TLC的寿命,然后通过3D NAND增加容量。
在主要的NAND厂商中,三星是最早量产了3D NAND,其他几家公司在3D NAND闪存量产上要落后三星至少2年时间,在3D NAND路线上,三星也研究过多种方案,最终量产的是VG垂直栅极结构的V-NAND闪存,目前已经发展了五代V-NAND技术,堆栈层数从之前的64层提高到了90层以上,TLC类型的3D NAND核心容量更大,目前最新的技术在自家的860及970系列SSD上都有使用。
860 QVO
QLC能够迅速落地,有如此成就离不开3D NAND技术的发展,正是如此,借助3D NAND技术,QLC才能够实现1000PE的寿命,目前能够推出QLC的厂商,也都是通过3D NAND实现的。大家对QLC的最大焦虑就是寿命,真正了解QLC以后,自然会消除焦虑,目前已经有多家厂商对外表示自家3D QLC闪存的可擦写寿命为1000PE。
三星第五代V- NAND技术已经足够成熟,再配合以QLC闪存这也就使得固态硬盘在容量上轻松步入TB时代,三星作为全球领先的闪存厂商,去年首发采用QLC闪存的SATA SSD,860QVO就已经能够实现单颗1TB的闪存颗粒,目前发售的版本最高甚至可以达到4TB,这也意味着SSD进入TB级时代。
QLC+3D NAND带来更多可能
NAND闪存已经进入3D NAND时代了,在2D NAND闪存时代,厂商为了追求NAND容量的提升,需要不断提升NAND制程工艺,但在3D NAND时代,提升NAND容量靠的不是微缩制程工艺了,而是靠堆栈的层数,所以工艺变得不重要了,比如三星最初的3D NAND闪存使用的还是40nm工艺,可靠性要比20nm、10nm级工艺高得多。
由于TLC问世于2D NAND闪存时代,所以遭遇了诸多寿命、性能上的考验,最初发布的TLC闪存P/E寿命只有100-150次,但是随着NAND技术的进步、纠错技术的改良,P/E寿命不断提升,从TLC闪存的进阶之路我们便不难看出这个道理,所以这个发展之路对于QLC闪存同样适用。
任何新技术的普及都不是一帆风顺的,所以大家对QLC闪存的寿命担心也很正常,从内部结构来看,确实QLC闪存的寿命要低于TLC,但现在3D NAND时代的QLC闪存在可靠性上跟2D NAND时代的TLC、QLC完全不同,P/E寿命不是问题,目前主流的QLC闪存P/E已经能够达到将近1000,并不比TLC闪存差多少。
连续读写
三星作为全球主要的闪存厂商,新技术一直领先于市场,我们目前已经能够看到消费级的QLC闪存硬盘860QVO,而且三星为其提供了3年时间的质保或者1440TBW的总写入,且连续读写测试能达到跟TLC同级的水平,大约写入100GB时速度下降为100MB/s,但这依旧要远远高于机械硬盘的速度。
QLC闪存现在能够问世从根本上来说是市场需要,我们都知道内存的速度要比SSD快,但是SSD又要比机械盘快,性能虽然逐渐降低,但是换来的是更大的容量,所以随着技术发展势必会有TB级起步的超大容量SSD来取代机械硬盘的位置,而历史将这个任务交给了QLC闪存。
QLC闪存时代已经来临
由于内部架构原因,QLC闪存读写速度要低于TLC闪存,但是要远远高于机械硬盘,并且拥有同等TB级的容量,随着5G逐渐进入商用,我们个人的存储需求势必进一步加大,有不少科研机构预计了我们未来的硬盘使用场景,未来更可能是以500GB左右的TLC或者MLC闪存盘来做系统主盘,用2T或者更大的QLC闪存盘当做仓库盘这样便能完美的发挥各自优点,避开不足。
可以说QLC闪存的时代已经来了,三星QLC闪存已经开始出货,我们在电商平台已经可以看见三星的860QVO在出售,最高容量可以支持4TB,很明显QLC闪存最大的优势是能够实现更大的容量,无论是消费级还是企业级,而这靠TLC是无法实现的。
与机械盘相比,无论是连续读写、随机读写亦或是功耗和噪音它都是完全胜出,所以取代机械硬盘应该只是时间问题了。
完
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看了这么多固态硬盘科普,终于真正搞明白TLC闪存和SLC缓存
除了极个别MLC和QLC型号,现在我们能够买到的固态硬盘基本都使用了TLC闪存,今天为大家介绍一些不为众人所知的TLC秘闻。
为什么TLC写入速度比较慢?
闪存用存储电子来记录和表达数据,存储电子的部件叫Floating Gate浮动栅极。通过在Control Gate控制栅极施加一个参考电压,并判断源极与漏极是否导通,就能判断浮动栅极中是否存储有电子,从而实现闪存中数据的读取。
东芝在1984年发明了NAND闪存,最早的NAND闪存属于SLC类型,即每个存储单元可以记录1比特数据。对于SLC闪存来说,闪存FT浮动栅极中有电子代表0,没有电子代表1。
闪存写入过程其实就是将一部分的1转换成0,即给FT浮动栅极"充入电子"。擦除过程就是将栅极的电子全部"放掉",使它们变回1。
给栅极"充电"的过程需要分步进行,逐渐增加"阈值电压",每进行一步就与预先定好的不同数据定义的分界线——"参考电压"进行一次对比。SLC的一个存储单元只需表达一个比特的数据,只要区分0和1就好,所以只需要用到一个参考电压。
而MLC闪存要表达2比特数据就需要区分11、01、00和10四种状态,用到四种参考电压。MLC闪存的写入过程因此变得比SLC慢许多。
到了TLC时代,每个存储单元需要记录3比特数据,二进制信息增加到8种,需要用到7种参考电压来隔离这8种状态。TLC的写入过程也就需要更多次的比对和确认,写入速度随之降的更低了。
为什么只有SLC缓存而没有MLC缓存?
pSLC Mode是将部分TLC闪存单元当作SLC使用,从而大幅提升短时突发写入速度的技术。同样的,将TLC临时当作MLC来操作就是pMLC mode。不过pMLC Mode很少被人提起,这是因为它看起来不如pSLC那样划算,下图是某闪存在不同模式下的数据指标:
虽然把TLC模拟成更高级的闪存使用能够缩短读取和写入所需时间,但每个闪存单元能容纳的数据也变少了,综合之后pMLC甚至有可能不如TLC读写速度快。不过pMLC的出错率较低,可以适应那些纠错能力比较低的闪存控制器,应用在部分工业用途当中。
3D堆叠有没有解决TLC的难题?
过去平面闪存使用FT浮动栅极层作为电子的容器,当代3D闪存主要使用CT电荷捕获层存储电子。下图是平面闪存与东芝BiCS三维闪存的结构对比:
由于BiCS结构增大了存储单元间隔,就可以增大单次编程序列的数据量来提升写入速度。同时,由于读写干扰降低,闪存数据出错率下降,BiCS也带来更高的写入/擦除循环次数,也就是我们平时说的"写入寿命"。
TLC写入速度的增长还可通过结构改进升级
TLC写入速度方面的短板主要依靠提升并发度来实现。目前一个闪存die通常具备两个Plane平面:
东芝计划在下一代BiCS5 96层堆叠3D闪存中将平面数量提高到4个,从而令闪存写入速度翻倍。
科技一直在进步,TLC虽然不美好,但似乎也没那么糟糕。
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