一种名为X-NAND的新型存储,速度飙升
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初创公司 Neo Semiconductor 之前推出了 一种名为X-NAND 的技术,该技术将 NAND 裸片切割成多个平行平面以加速 IO。现在它说它已经推出了第二代,以再次将速度提高两倍。
该技术采用具有两到四个访问平面的基本 NAND 芯片。每个平面分为 4 到 16 个子平面,每个子平面并行访问。页面缓冲区用于优化数据吞吐速度。一本小册子解释说,在第 1 代中,总共有四个平面用于 SLC/TLC 并行编程。输入数据被编程到三个平面中的三个 SLC 字线,然后被编程到第四平面中的 TLC 字线。
第二代X-NAND 的工作方式有所不同。两个平面用于 SLC/TLC 并行编程。输入数据像以前一样被编程到三个 SLC 字线,但现在只在一个平面中,然后被编程到第二个平面中的 TLC 字线。这使得数据写入能够以更少的平面并行发生,并且 X-NAND 通过更大容量和更低成本的 QLC 内存提供类似 SLC 的性能。
Neo Semiconductor 表示,X-NAND 第 2 代可提供 3,200MB/秒的顺序写入吞吐量,比基本 SSD 快 20 倍。还有未指定的延迟改进。
它还提供 3 倍的基本随机读/写速度,并且裸片尺寸增加为零。
X-NAND 架构支持 NAND 的 SLC、MLC、TLC、QLC 和 PLC 变体。该IP可由NAND制造商(Kioxia、Micron、Samsung、SK hynix、Solidigm、Western Digital和YMTC)部署,并且与现有技术和工艺兼容,制造成本零增加。至少这是 Neo Semiconductor 的宣传。
到目前为止,我们还没有听说任何 NAND 制造商使用 Neo 的 X-NAND 技术。
Neo Semiconductor 还拥有 X-DRAM 技术,该技术基于更短的位线和更低的电容,从而增加了并行性。它说,这通过 400% 的刷新数据吞吐量提高了 DRAM 性能,降低了所需的电压,并降低了整体功耗。
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从新闻到市场分析报告,我们看到很多关于 3D NAND 的报道,国内这几年投资兴建许多12吋半导体工厂,其中大多是晶圆代工或 DRAM 厂,排除外资所投资的半导体厂,长江存储 (YMTC) 的武汉新芯 (XMC) 是目前唯一即将量产 3D NAND 的国内厂家。武汉新芯已研发出 32 层 3D NAND 芯片,预计年底量产,不过据消息指出,截至九月底武汉新芯已有约 2,000 片产能。
本篇文章将带大家初步了解 3D NAND 是什么、为何发展 3D NAND 技术、3D NAND 有哪些技术发展,以及,它所带来的影响。
NOR Flash及NAND Flash
在开始之前,我们先来科普一下ㄧ些 Flash Memory 的基本知识。在半导体存储器领域,NAND 是 NAND Flash Memory 的简称,Flash Memory 在国内翻译为快闪存储器,简称闪存,是ㄧ种非易失性存储器 (Non-Volatile Memory,NVM),也就是说当电源关掉,它所存储的数据不会消失。与之对应,大家常听到的 DRAM、SRAM 则是易失性存储器 (Volatile Memory, VM),电源关掉,所存储的数据会消失。
闪存依存储单元 (Memory Cell) 结构的不同区分为 NOR Flash及 NAND Flash 二种,对于这二种闪存的差异,技术细节我们不在此细说,读者只需知道:(请参考下表)
NOR Flash: 有较快的读取速度,但写入及擦除则较慢,其容量也远小于 NAND Flash,但 NOR Flash 可存取至任何选定的字节。ㄧ般 IC 内之嵌入式闪存 (Embedded Flash) 均为 NOR Flash,主要用于存储行动装置及计算机内之启动、应用程序、操作系统和就地执行 (eXecute-in-Place,XIP) 的代码。NOR Flash 存储单元大小比 NAND Flash大很多,也由于存储单元的结构,NOR Flash 在本质上比 NAND Flash可靠。
NAND Flash: 读取速度稍慢,但写入及擦除则相对较 NOR Flash 快很多,IC 容量可达 128GB 以上,但它无法存取至特定的字节,而是以小块 (Page) 方式处理数据。NAND Flash 通常被用来作为大量数据存储器,现在市面上 GB (Gigabyte) 级的 U 盘 (USB Flash Drive) 及 SSD 固态硬盘 (Solid State Drive/Disk) 均使用 NAND Flash。
图片来源 : Created by Author
闪存缩放限制
(Flash Memory Scaling Limit)
小存储单元尺寸 (Cell Size)、高性能 (Performance) 以及低功耗 (Power Consumption) 一直是存储器业者持续追求的目标。越来越小的尺寸让每片晶圆可以生产更多的 die,高性能才能符合高速运算的需求,低耗电才能改善行动装置电池充电频率及数据中心系统散热的问题。而芯片工艺的每一次提升 (24nm → 14nm → 10nm…) ,带来的不仅仅是元件尺寸的缩小,同时也带来性能的增强和功耗的降低。
有个词称为 ”闪存的缩放限制” (Flash Memory Scaling Limit),指出无论芯片上的元件能缩小多少,闪存都无法跟上步伐。这个限制过去十多年ㄧ直都没实现,然而,14nm 以下,半导体工艺迁移到 Fin-FET (Fin Field-Effect Transistor,鳍式场效应晶体管) 结构,一种新的晶体管,让这个 ”闪存缩放限制” 问题正式浮出水面,因为这技术无法直接套用在既有的闪存元件上。嵌入式 NOR Flash 在这方面目前似乎无解,幸好过去几年,ㄧ些新的存储器元件技术已被开发出来,嵌入式 NOR Flash 被取代应该只是时间早晚的问题,相反的,NAND Flash 业者却早已找到ㄧ些因应之道。
为了打破 ”闪存的缩放限制” 枷锁,确保能持续提供高容量、低成本的 NAND Flash,相关业者多年前就开始研发解决之道。主要的方向有:
3D NAND Flash : 把存储单元立体化
多层单元 (Multi-Level Cell) : 让每个存储单元不只存储ㄧ个 bit
硅穿孔技术 (TSV,Through Silicon Via) : 让多颗闪存晶粒可以直接堆叠封装
很多文章将第ㄧ项及第三项混淆在ㄧ起,下面我们将ㄧㄧ介绍,协助大家了解。
3D NAND Flash
那到底什么是 3D NAND ? 它指的是 NAND 闪存的存储单元是 3D 的。我们之前使用的闪存多属于平面闪存 (Planar NAND),而 3D NAND,顾名思义,就是它是立体的。Intel 用高楼大厦为例演释 3D NAND,如果平面闪存是平房,那 3D NAND 就是高楼大厦。把存储单元立体化,这意味着每个存储单元的单位面积可以大幅下降。下图为 Samsung Planar NAND 发展至 3D NAND (V-NAND) 的示意图。
图片来源 : Samsung V-NAND technology White Paper (Modi
左边二个是 Planar NAND,只是存储单元结构不同,由浮动栅结构 (Floating Gate) 迁移至电荷撷取闪存,亦即上图之 2D CTF (Charge Trap Flash)。然后是将 2D CTF 存储单元 3D 化变成 3D CTF 存储单元 (上图之 3D CTF),最后通过工艺技术提升逐渐往上增加存储单元的 Layer 数,把存储单元像盖大楼ㄧ样越做越多层。Samsung 的 3D V-NAND 存储单元的层次 (Layer) 由 2009 年的 2-layer 逐渐提升至 24-layer、64-layer,再到今年 (2018) 之 96-layer。
图片来源 : Samsung V-NAND technology White Paper (Modi
近几年来许多大厂纷纷投入 3D NAND 的研发,但目前只有 Samsung、Toshiba/SanDisk/WD、SK Hynix、Micron/Intel 四组公司能够量产。各家的 3D NAND 存储单元及技术都不相同,也几乎每家公司都已宣布开发出 96 层 3D NAND,但目前量产的大多为 64 到 72 层的 3D NAND。
3D NAND 闪存工艺复杂,难度极高,因此厂商并非以最先进的工艺来研发生产 3D NAND。目前最先进的逻辑芯片工艺已来到 7nm,许多大厂目前量产的是 14nm,Planar NAND 也多使用 14nm 工艺生产,而 3D NAND 则大多使用 20nm 以上的工艺。下图是 Tech Insights 2018 最新整理的 NAND Flash Roadmap,包含 2D (Planar) NAND 及 3D NAND,注意到没,前面提到即将量产的长江存储 (武汉新芯) 已被纳入图表中,成为第五家有能力生产 3D NAND 的厂家。
图片来源 : Tech Insights NAND Flash Memory Technology/
多层单元
(Multi-Level Cell)
一般正常的存储单元,不管是 DRAM、SRAM、FLASH、ROM 等等,都只存储ㄧ个比特 (Bit) 的资料 (称为 SLC,Single-Level Cell)。为能更缩小存储单元尺寸,除了运用工艺持续做小及将存储单元 3D 化外,各厂商也将脑筋动到增加每存储单元能存储的 bit 数目上。简单的算数,当ㄧ个存储单元可以存储二个 bit 时 (称为 MLC,Multi-Level Cell),其存储单元尺寸等同于减少ㄧ半 ; 存储三个 bit (称为 TLC,Triple-Level Cell),则尺寸等同于原有的 1/3 ; 四个 bit (称为 QLC,Quad-Level Cell),则存储单元尺寸只剩原有的 1/4。(注: 也许当年在定义 2-Level Cell 时没想之后还会有 TLC 及 QLC,因此以 MLC 代表 2-Level Cell)。
SLC 存储ㄧ个 bit 数据,也就是二个状态 (0,1) ; MLC 存储二个 bit 数据,所以是四个状态 (00,01,10,11) ; TLC 三个 bit,八个状态 (000,001,010,011,100,101,110,111) ; QLC 四个 bit,十六个状态 (0000,0001,…. 1111),如下图所示。
图片来源 : Micron Official Website (Modified by Author
当然天下没有白吃的午餐,鱼与熊掌不可兼得,存储单元尺寸降低的代价是设计难度的提高以及性能的降低。为什么会如此?又是ㄧ个简单的算数问题。假设存储单元电压是 1.8V,对 SLC 而言,ㄧ个 bit 有二个状态,平均分配 1.8V 电压,每个状态可以分到 0.9V。对 MLC 而言,四个状态平均分配电压,每个状态可以分到 0.45V,以此类推,TLC 每个状态只可以分到 0.225V,而 QLC 更惨,每个状态只可以分到 0.1125V。在这么小的电压下,这么多的状态以极小的电压区隔,电压区隔越小越难控制,干扰也越复杂,而这些问题都会影响 TLC 或 QLC 闪存的性能、可靠性及稳定性,因而可以想见设计的难度有多高了。
另外如同上图所示,越往右,存储单元相对尺寸越小,因而成本越低。但其编程/擦除周期 (Program/Erase Cycle,简称 P/E Cycle,也有人称为擦写次数) 会大幅降低,同时读、写及擦除所需的时间也会增加 (性能降低)。擦写次数的降低为这项技术带来相当大的争议,因为擦写次数代表这闪存的寿命长短。如同上图所示,从 SLC 到 QLC,擦写次数由 10 万次降到只有ㄧ千次,吓坏ㄧ大堆人。
厂商当然也知道,他们用系统设计来弥补这项缺点。系统会控制平均分摊每一个区块的擦写次数,故障的区块也会被尚未使用的区块替换,以确保了闪存能持续运行。因为如此,即使每个存储单元只有ㄧ千次擦写次数,整颗闪存仍然可以从容的应付我们日常使用的需求。当然,这样的结果使得 TLC 或 QLC 只适用于消费者个人使用 (例如 SSD),它是无法满足 Data Center 之类的企业需求的,因为商用,例如资料处理中心 (Data Processing Center),的存储设备,其插写频率是相当相当高的。
硅穿孔技术
(TSV,Through Silicon Via)
硅穿孔技术其实与 3D NAND 工艺无关,严格来说,它属于ㄧ种封装技术。会拿出来讲主要是ㄧ方面它可让 3D NAND 闪存更上层楼,容量加大好几倍。另ㄧ个原因是因为有些人把它跟 3D NAND 存储单元的 layer 层数混淆了,他们把 32、64 或 96-layer 3D NAND 描述为把 32、64 或 96 个晶粒 (Die) 堆叠在ㄧ起,这是很大的误解。
TSV 技术已普遍用于 DRAM及 Flash 产品。以往ㄧ个 IC 芯片 (Chip) 只封装ㄧ颗晶粒,渐渐地为了降低成本、节省主机板空间及提高性能,多芯片封装 (MCP,Multi-Chip Package) 开始盛行 (如下图左方图示)。TSV 则是以工艺方式将 IC 基板 (Substrate) 穿孔,填入金属,让上下晶粒直接相导通 (如下图右方图示),不仅省去像左方图示所显示封装打线 (Bonding),更能进ㄧ步提升 DRAM 或 Flash 单颗芯片的容量、讯号品质、传输性能,以及降低传导杂讯干扰。
图片来源 : 3D NAND Flash Memory - Toshiba (Modified by
目前各家量产的 3D NAND 芯片大多只以 TSV 堆叠到 8 或 16 层 3D NAND 晶粒 (Die)。下表范例为 Toshiba 的 512GB (Gigabyte)/1TB (Terabyte) 闪存产品介绍,你可以清楚看到它使用 48-layer 的 3D NAND 存储工艺制造出容量为 512 Gb (Gigabit) 的闪存晶粒,再以 TSV 技术分别堆叠 8 或 16 个 die (在下表中是以 Number of Stacks 来表示堆叠数目) 来做出 512 GB (512Gb x 8) 或 1TB (512Gb x 16) 的闪存芯片。(注 : 小写的 b 代表 bit (比特),大写 B 代表 byte (字节),ㄧ个 byte 等于 8 个 bits)。
图片来源 : AnandTech Post : Toshiba Weds 3D NAND and T
所以,ㄧ个 NAND 闪存的晶粒 (die),运用 3D NAND 技术,可以把多达 96-layer 的存储单元堆叠在一起,像盖摩天大楼ㄧ样。而为了增加每个封装芯片 (Chip) 的容量,厂商再把8个或16个晶粒 (die) 以TSV 的技术叠在ㄧ起去封装成芯片。这样应该清楚了吧!
结语
半导体工艺来到 14nm 以下,Fin-FET 技术让 NAND 及 NOR 闪存的发展碰到瓶颈。半导体大厂运用三项技术,亦即 3D NAND 存储单元技术、多层单元 (MLC/TLC/QLC) 技术,以及,硅穿孔 (TSV) 技术,让 NAND 闪存得以持续发展,许多大厂都已开发出 96 层 TLC 甚至是 QLC 的 3D NAND 闪存。
NAND 闪存芯片的容量在这几年快速提升,因而使得 NAND 闪存芯片成为行动装置及计算机内之大量数据存储器芯片。SSD 固态硬盘的容量已可做到 1TB (Terabyte) 等级,逼近 HDD 传统硬盘 (Hard Disk Drive)。虽然在未来几年 HDD 仍然有些许价格上的优势 (SSD 每 GB 的单价约为 $0.2~$0.3,是 HDD 的10 倍),但由于 SSD 不像 HDD 有机械动作,速度、噪音及耗电也都比 HDD 好,已普遍受到ㄧ般消费者的欢迎,然而由于低擦写次数等限制,使得 3D NAND SSD 无法取代 HDD 在商用市场上的地位。
许多新型态的非易失性存储器已研发出来 (我们将另文介绍),未来或许能取代现有的 DRAM/SRAM/Flash 存储器。在此之前,3D NAND 闪存应该仍可保有它的市场地位ㄧ段时间。
最后,附带ㄧ提,这个月初 (2018 年 8 月),长江存储发表其称之为 Xtacking 的突破性技术。它将为其 3D NAND 闪存带来前所未有的 I/O 高性能、高存储密度,以及更短的产品上市周期。依据其新闻稿,Xtacking 技术只需一个处理步骤就可通过数百万根金属 VIA (Vertical Interconnect Accesses,垂直互联通道) 将二片晶圆键合接通电路 (注意是二片晶圆而非二颗晶粒),其中一片晶圆是负责数据 I/O 及存储单元操作的外围电路,另一片晶圆则是 3D NAND 存储单元。这样的方式有利于 I/O 及控制电路以及 3D NAND Flash 各自选择其最合适的先进逻辑工艺,这 Xtacking 技术可以让其 NAND I/O 速度得以提升到 3.0Gbps (目前世界上最快的 3D NAND I/O 速度的目标值是 1.4Gbps), 与 DRAM DDR4 的 I/O 速度相当,这即将量产的国产 3D NAND 闪存值得期待。
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