NAND Flash误码的原因

NAND Flash的物理存储机制决定了其本身发生错误是不可避免的。错误的原因包括工作环境（温度影响较大），工艺水平，工作原理等。

NAND Flash存储数据的最小单元是cell，实际是一个MOS，每个cell依据其内部电荷量来表征数据信息。随着工艺的进步，cell越来越小，其内部的电荷量也越来越少，出错的可能变得越来越大。例如34nm的工艺每个cell可存储100个电子，而19nm的时候只能存储10个电子，因此每流失一个电子都会对阈值电压产生重要影响。同时较近的距离也会让各个存储单元之间更容易产生影响。

错误会在下面几种情况下产生：1，擦除操作；2，读取干扰；3，编程干扰；4，数据保持发生错误。

读取/编程干扰主要是因为对目标cell进行读写操作对相邻cell产生了影响，从而导致相邻cell数据出现错误。

数据保持错误是因为长时间的电荷量变化引起的阈值电压偏移导致的。

什么是NAND Flash位翻转？如何解决其带来的启动异常等问题？

位翻转特性。

大家是否遇到过设备运行一段时间后无法开机，程序运行异常，但重烧固件后问题又神奇消失了的情况。如果你使用的存储是NAND Flash，那么或许位翻转现象是你需要关注的重点问题。

NAND Flash工作原理与数据绝缘储存有关，当需要写入数据时施加电压会形成电场，使电子能够穿越绝缘体进入存储单元完成数据写入。当需要删除存储单元的数据时同时也是需要施加电压的，以引导电子穿越绝缘层使其离开存储单元。

然而问题的关键在于什么是位翻转？位翻转是指在NAND Flash存储单元中由于长期使用电压变化、物理效应等因素，存储单元内的电子状态发生意外变化的现象。举个例子，本应储存为0的状态可能被意外变成了1或者反之，这种变化可能导致数据的读取错误，进而引发设备异常运行、启动问题等。

位翻转的出现通常源于漂移效应、频繁对某一区域的读写操作以及存储单元寿命耗尽等原因。要解决这个问题一种很常见的方法是引入ECC校验机制，这个机制能够检验所读取数据的正确性并在一定范围内纠正错误。

为了应对NAND Flash位翻转可能带来启动异常等问题，致远电子M3352核心板提供了有力的解决方案。通过在U-Boot支持8位ECC校验算法，它可以纠正小于8位的位翻转的问题。而对于超过8位的数据位翻转，系统将从备份分区启动并恢复坏区，从而保障系统不会因NAND Flash位翻转而导致启动问题。

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