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nand工厂扩容 三星宣布对韩国平泽市的NAND工厂进行扩容以满足未来的需求
发布时间 : 2024-10-11
作者 : 小编
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三星宣布对韩国平泽市的NAND工厂进行扩容以满足未来的需求

三星于昨日宣布,他们已经开始对位于韩国平泽市的NAND闪存工厂进行扩容,以增加自己的V-NAND闪存生产能力,更好地满足未来的需求。

三星位于平泽市的工厂在2015年时建成,于2017年正式开始生产NAND,并为三星在2018年实现创纪录的利润提供了坚实的保证。前不久三星才宣布了他们会在平泽市新建一个专注于应用EUV技术、提供5nm EUV产能的半导体工厂,现在又宣布他们在五月份就已经开始对同样位于平泽市的NAND工厂进行扩容建设,看来三星半导体对未来的芯片需求量还是非常有信心的。

三星的NAND工厂数量较多,目前他们也是全球最大的NAND供应商之一,其NAND工厂主要位于本土韩国,但在中国西安也兴建了一个,并且现在已经启用。

目前三星的V-NAND,也就是三星的3D NAND颗粒生产技术已经发展到了第六代,堆叠层数已经到达1xx的地步,不过现在我们还没有在三星的民用级产品上见到第六代颗粒,能买到的仍然还是第五代,堆叠层数为9x的产品。预计他们的新一代1xx堆叠颗粒将搭配PCIe 4.0总线于未来登场,相关产品——980 PRO已经在今年的CES上展出了,性能指标相当优秀。并且目前有消息指出,PS5上搭载的SSD来自于三星,这台销量毕竟会上千万级的新游戏主机在未来将持续拉动三星NAND的需求量。

SSD新范式|NAND的扩容之路(三):3D堆叠的尽头在哪里?

NAND Flash采用3D堆叠技术的优点如此突出,那缺点是什么?毕竟,楼房虽比平房划算,但摩天大楼总归没有普及,会面临施工困难、维护昂贵、消防无力的问题。3D NAND Flash肯定也会遇到类似的挑战。鉴于目前3D堆叠的技术红利尚算丰厚,用“缺点”这个词为时尚早,称为难点或者瓶颈更合适。作为大宗消费性产品,3D NAND肯定需要不断在工艺技术、生产成本、产品寿命、产品性能之间寻求一个平衡。

堆叠的挑战

首先,大家最担心的肯定是生产成本。成本主要受几方面的影响:材料消耗、生产时间、良品率。

时间方面,堆叠是线性的增长,每一层存储单元都是在重复栅极(对于电荷捕捉技术来说,那就是半导体层,材质通常是氮化硅等)+绝缘层(二氧化硅)、栅极+绝缘层的沉积,还包括研磨。所以,随着层数的增加,生产的时间成本是在不断增加的。

材料消耗也有类似的线性增长的问题,甚至浪费会随着层数的增加而递增,因为每层都需要连接字线,从而需要做成阶梯状。也就是说,越高的层,实际面积越小,如果层数特别多,顶层的投影面积(对于沉积而言)的损失不可小视。

图片来源:TechInsight整理

目前暂时还没有技术可以明显减少生产时间和材料的消耗,这属于生产中的“变动成本”部分。换言之,存储密度的倍增并不会直接带来单位存储成本对折——摩尔定律中,“晶体管成本每十八个月下降一半”这样的说法对于3D NAND并不能成立。被持续摊薄的其实是外围电路、硅晶圆基底对应的成本。半导体行业早期提升产能的方法是增加晶圆的直径,如4英寸、6英寸、8英寸,直到目前的12英寸。液晶面板行业也是类似,通过增加基板的面积来实现,如6代线、8代线、10代线。但半导体行业晶圆直径的发展停留在12英寸,单片晶圆的生产效率无法明显增加,增加产能只有微缩和增加生产线两条路。NAND产能的扩张主要依靠沉积、蚀刻等设备数量的增加,而不能寄望于基础设施(面积)的改朝换代,因此存储总归变成“锱铢必较”(效率)且只适合强者(投资规模)生存的行业。

层数的增加,对良率也会形成严峻的挑战。每层的每一个存储单元,在垂直方向上是需要穿孔与下层连接的。这些通孔需要在堆叠若干层后蚀刻完成,并彻底清除杂质。随着层数的增加,通孔的纵横比(高度:直径)递增,误差会不断增加,譬如通孔的内径缩小、歪斜等,甚至彻底断开。在64~96层的堆叠中,完整的垂直通道的纵横比已经超过70,非常的狭长。另外,由于堆叠是不同材质叠加的,材质的膨胀率有所差异,在加工过程中受到高温的影响时可能会出现不均匀的内应力,导致翘曲、崩裂、坍塌等问题,加大了蚀刻通孔的难度。一颗芯片当中,需要蚀刻数十亿个孔,这个良率挑战,想想都头疼。

缓解矛盾之道:分段堆叠

面对打孔的严峻压力,需要不断改进蚀刻工艺,开发更合适的化学品(腐蚀、清洗),寻找更匹配的材料,并逐步降低每层的厚度(减少沉积、蚀刻、清洗的时间,减少热加工的应力等等)。这些属于工艺技术层面的改良。在设计层面,其实也有“取巧”的方法,那就是串堆栈,也就是分段完成堆叠。

分段构成堆栈(Stack,或Deck)并不是近期才出现的思路,早在48~64层时期就有企业开始采用了,但在1xx层之后,成为必选项。譬如,一个128层的产品,我们可以分为2个64层,分组操作来实现:先反复沉积、堆叠,逐层建设;堆出64层后,蚀刻通孔;覆盖中间层(相当于楼房封顶了);接着,在刚才完工的中间层上,继续堆叠,加盖64层;第二个64层堆完,蚀刻,与中间层打通,封顶,完工。简单说,下64层楼房的屋顶,就是上64层楼房的地基,第二组64层的通孔,对齐中间层的电路就可以。

堆栈的施工技巧,和造楼的技能,是配合使用的。如果我们造楼的水平(蚀刻工艺技术)提升了,连续堆72层也有很好的良率,那么,我们可以造两次72层,就可以实现144层;96层的能力具备了,我们会得到192层;等我们造11x层熟练了,我们就可以得到23x层。

肯定也会有人想到了:我们可以在64层的工艺水平上,堆栈3组甚至4组,那192层甚至256层也是手到擒来啊。道理没有错,但这样刷层数,有违我们堆叠的初衷之一:合理的成本。前面提到过,在工艺技术没有太大变化的情况下,堆叠层数提升所需要的时间成本和材料成本是线性增加的。如果分组太多,我们会增加额外的封顶次数,这屋顶也是要钱的啊。分段施工、多次蚀刻的生产效率会低于一次性施工。另外,若干堆栈对齐也是有难度的,多次对齐其实也会降低良率。下图就是堆栈对齐不良的一种情况。

目前,只有Solidigm(前Intel NPSG部门)基于浮栅技术(Floating Gate)的144层3D NAND Flash采用了3堆栈的方案,其他厂商均使用双堆栈的方案,包括SK海力士*最近推出的238层3D NAND Flash,单堆栈达到了119层。那么,当技术迈入3xx层的时候,业界是否会普遍使用3堆栈的方案呢?这就拭目以待吧。

堆叠有尽头吗?

堆叠还带来厚度的问题。如果堆叠层数倍增,裸晶的厚度也会逐渐增加,从封装的角度看并不是好事。幸运的是,3D NAND Flash发展至今,裸晶的厚度增加与层数并非线性关系,每层的厚度正在逐步的缩减,大致每一至两代可以减少10%左右。早期的3D NAND的层厚度大约70nm的级别,存储单元的堆栈厚度约为2.5μm。在1xx层时期,层厚度降低到了50nm左右,堆栈厚度约为7~10μm的量级,加上外围控制电路、电源层,以及硅片基底,裸晶的厚度大约50μm量级。如果采取16片裸晶堆叠,则已经接近1mm厚度,封装后大致是1.5~2mm。

图片来源:TechInsight整理

如果层数推进到500层左右,且减薄速度符合目前的理想,假设层厚度为35nm,堆栈厚度也会达到18μm左右,相较目前的主流产品增加约10μm。如果靠硅基底的减薄工艺来抵消这种变化(以保持封装厚度与现有水平相同),基底机械强度的挑战还是非常巨大的。

厚度降低是否会降低可靠性?这个担忧是合理的。当层厚度降低到35nm以下,栅极在垂直方向的厚度也会降到20nm以内,2D NAND末期遇到的栅极和绝缘层过薄(水平方向)的串扰、磨损等问题同样会发生在3D NAND上,会限制多值化、寿命等方面的表现。所以,500层之后的事情,譬如800层,甚至突破千层,业内有机构预测在2030年后可以实现,但是否能够实现,或者是否有必要实现,是有待商榷的。如同后摩尔定律时代通过小芯片的2.5D、3D封装实现晶体管密度和性能的增长一般,在某个层数之后,也许用封装技术来增加密度比裸晶内继续拼堆叠要更合理。

不论是TLC/QLC/PLC,亦或者20nm以下工艺2D NAND Flash,以及刚才提到的5年或10年后的3D NAND Flash,可靠性/耐久度都是最终无法回避的话题。如果我们无法突破物理世界的桎梏,还有什么办法为NAND Flash的扩容之路保驾护航呢?也许,我们应该回到它所服务的数字世界去寻找良药。

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