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东芝nand原理 3D闪存只讲堆叠层数不谈制程工艺的背后
发布时间 : 2025-03-09
作者 : 小编
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3D闪存只讲堆叠层数不谈制程工艺的背后

在我们打开一个固态硬盘的产品信息页面时,总是能看到"采用3D NAND闪存"这样的介绍。大家是否想过,为什么3D结构会取代制程微缩成为闪存的发展方向?

15nm制程成为2D与3D闪存的分水岭,在15nm之后闪存不再像CPU那样继续向更先进的10nm、7nm制程迈进。是什么样的原因使得更先进的半导体制程与NAND闪存无缘?现在的3D闪存到底又是什么制程节点制造的?

TLC转折点

各种闪存新技术的出现,本质上都是为了降低每GB容量的成本。NAND闪存相比内存有一个优势,它在一个单元里可以存储多个比特(bit)的数据。这是制程微缩之外的另一种扩容量、降成本手段。当发展到TLC(3bit/cell)后,遇上麻烦了。

闪存单元的FG浮栅结构就像一个可以存储电子的桶,其中容纳的电子数量会影响到闪存单元的读取阈值电压Vth。在TLC中为了表达3比特数据已经需要用到8种不同的阈值电压,如果发展到QLC的4bit/cell结构,更需要区分出16种阈值电压,这就像蝇头小楷一样难以看清。

电子危机

制程微缩的过程进一步加剧了闪存危机,新制程的FG浮栅结构中能容纳的电子总数不断下降,发展到一个非常危险的水平。下图中的红线是过去BCH纠错技术下的可用界限,除非改变闪存结构,否则制程微缩将难以为继:制造出的闪存单元会因为能够容纳的电子数量太少而极其容易出错。

3D闪存架构提出

3D闪存就是攻城狮们找到的新结构出路。早在2007年,东芝就首次提出BiCS三维闪存结构,成功地解决了当代的发展难题。目前市场上在售的固态硬盘几乎全部使用了3D闪存。

3D闪存并不是简单地把闪存单元从平面堆叠成立体状态,而是涉及了基础的结构变化。下图为东芝BiCS三维闪存与传统平面闪存的结构对比。

最终结果使得闪存单元之间的间隙变大、读写干扰得到降低。同时,Charge Trap取代了传统的Floating Gate结构,有力地提升了闪存单元"抓住"电子的能力,降低了漏电速度。

3D闪存的制程信息

很多地方说3D闪存之所以更耐用,是因为使用了更老的制造工艺。这一点其实只适用于初代的3D NAND,40nm的制程使得初代的3D闪存非常昂贵,没有达到扩容量、降成本的初衷。

尽管闪存原厂都不再透露3D闪存的具体制程信息,TechInsights的分析报告还是给出了我们想要的答案:目前的64层堆叠、96层堆叠技术使用的都是19/20 nm制造工艺。

3D闪存的未来

现在3D闪存已经在固态硬盘当中大为普及,未来还会有4D闪存吗?其实4D概念去年就有闪存厂商提出,不过"4D"只是将闪存中的外围电路拿出来,置于存储单元阵列的下方,属于3D工艺的一个小改进。

目前的主流3D闪存拥有64层堆叠层数,东芝在去年率先宣布96层3D TLC。在即将到来的下个节点是96层堆叠与QLC的结合,东芝的96层BiCS4已实现1.33Tb/die的存储密度,如果以8die封装来计算,每个闪存颗粒就可以提供高达1.33TB的海量存储空间,手机和固态硬盘的容量即将迎来又一次爆发式增长。

V-NAND到底是个啥?三星970EVO Plus强悍性能的背后

当我们在聊固态硬盘的时候,我们到底在聊些什么?经历了十数年的行业发展后,固态硬盘的技术规范和产品形态上逐步实现了统一,各家产品的差异已然上升到了内部架构和核心组件方面的技术代差上了。

简单剖析,固态硬盘产品的内核无外乎三大组件,用于调控整体存储功能和特殊机制的“大脑”即主控芯片,产品内部制作成本最高、担当存储重任的闪存颗粒,以及部分产品上用于产品支撑的缓存颗粒。

至于重要性而言,一举打破存储行业格局,让固态硬盘走入千家万户的存储介质,即闪存颗粒部分,可以说是区别固态硬盘好坏的最重要的内核组件。今天,笔者就以业界知名的三星970EVO Plus为实例,简单聊下关于闪存颗粒的技术和功能演变。

01 关于NAND闪存:单位电荷数Bit的变迁

NAND闪存,按照业界一般的理解, 本质上是一种长寿命的非易失性(在断电情况下仍能保持所存储的数据信息)的存储器,其中非易失性的突出特点,使得这种基于通断电存储的介质能够长久的保存数据,最终使得NAND闪存颗粒走向了前台;其实,熟悉闪存的朋友,可能还听过另一个词,即Dram颗粒,即动态随机存取存储器,同样是基于通断电的特性,只不过DRAM芯片的每次存储数据的过程中需要对于存储信息不停的刷新,无法实现长久存储,因而错过了这次“C位出道”的时机。

三星原厂NAND闪存颗粒

NAND闪存工作的原理是通过单位NAND内部电荷数Bit的通电和放电,实现对数据的存储。基于无机械结构的电荷存储优势,NAND闪存技术能够提供包括高性能、稳定、耐摔耐磕碰、一体成型故障率低等多种特点,迅速成为了各家存储厂商研发的重点。

因而,为了进一步提升NAND闪存容量,满足用户对于大容量存储的需求,在以三星、东芝、Intel等领先的NAND原厂推进下,研发出了不同电荷数Bit的多种NAND颗粒,即为SLC(1bit)、MLC(2bit)、TLC(3bit)、QLC(4bit)以及处于实验阶段即将量产的PLC(5bit)等类型。

不同颗粒类型的bit数分布

可随着单位电荷数Bit的堆叠,带来了两个后果,一是单位电荷Bit的增加对于半导体工艺制程的要求越来越高,从50nm制程一路升级到14/15/16nm制程,半导体制程工艺越来越无法满足更多单位电荷数Bit的堆叠了;二是单位电荷数Bit的堆叠,会在狭小的NAND闪存内部产生大量的干扰电流,严重影响闪存产品的性能和寿命。

02 三星V-NAND技术:从平面到垂直的创新性探索

为了解决单位堆叠的带来的电荷干扰问题以及半导体工艺的瓶颈,三星创新性的提出了在原有制程的基础上将NAND闪存以3D堆叠的形式,封装在NAND闪存之中,一方面解决了在平面的狭小空间内多个电荷数排列产生的电子干扰问题,保证了产品的质量和性能;

全球首款V-NAND技术产品

更为重要的是,解决了工艺制程无法推进容量提升的瓶颈,用3D堆叠替代2D平面排列,让NAND闪存以垂直的形式进行排列,进而提升了总体的容量。

V-NAND和普通2D NAND

朴素的理解就是,此前的NAND闪存就像在单位面积的地基上盖平房,平房的容积是恒定的,要想提升入住人口,只能无下限的降低单位容积率,其后果就是制造工艺和电磁干扰;

而V-NAND技术诞生之后,2D的平房变成了3D垂直的楼房,理论上只要高度不限制,单位面积的地基上的可利用容积几乎等同于无限,即避免了制程工艺的瓶颈又解决了电磁干扰的问题。

01 V-NAND技术是三星970EVO Plus强劲性能的有力支撑

三星V-NAND技术从2013年引入市场,便引发了全行业的关注,从初代的32层(即在单位面积上的堆叠层数)到后续的64层,直到9X层,根据公开消息,三星V-NAND技术或将提升到200+层堆叠,最大限度的提升单位闪存的利用率。

而笔者手中这款三星970EVO Plus便是采用三星全新V-NAND技术研发的旗舰级产品,基于V-NANDND技术在容量和稳定性上巨大优势,搭配着三星自研的Phoenix主控,使得三星970EVO Plus的性能实现了超越。

根据官方提供的数据,三星970EVO Plus最大读取性能达到了3500MB/S,最大写入性能也达到了3300MB/S,几乎达到了消费级固态硬盘的巅峰水准。作为一款推出了数年的旗舰级固态硬盘,在即将踏入存储新纪元的当下,依旧没有任何一款同级别的PCIE3.0固态能够在性能上实现对970EVO Plus的绝对超越。

实测性能

这背后的原因,无外乎三星在V-NAND技术上的近十年的积累,以及在此基础上进行的主控配对和优化。

多说一句,随着PCIE4.0时代的来临,三星也将在新世代推出旗舰级980PRO固态硬盘,进而延续PCIE3.0时代的行业地位,可以预见的是,980PRO固态硬盘依旧会在V-NAND堆叠、主控性能方面实现大跨越的升级,至于三星970EVO Plus则还是会成为PCIE3.0世代下的王者存在。

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