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NAND的存储原理 电脑手机都用它:一文读懂DRAM,SRAM和Flash原理
发布时间 : 2024-11-24
作者 : 小编
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电脑手机都用它:一文读懂DRAM、SRAM和Flash原理

DRAM、SRAM和Flash都属于存储器,DRAM通常被称为内存,也有些朋友会把手机中的Flash闪存误会成内存。SRAM的存在感相对较弱,但他却是CPU性能发挥的关键。DRAM、SRAM和Flash有何区别,它们是怎样工作的?

DRAM:动态随机存取存储器

DRAM的全称是Dynamic Random Access Memory,动态随机存取存储器。"随机存取"意味着CPU可以存取其中的的任意位置,而不像硬盘那样每次存取要以扇区为单位进行。

而"动态"是因为DRAM的工作采用电容原理,为了防止漏电引发数据错误,需要定时重复刷新。当电源中断后DRAM中的数据就会全部丢失,所以它属于"易失型"存储器。

SRAM:静态随机存取存储器

SRAM的存在感比较弱,因为多数时候它并不是像DRAM那样以内存条的形式直接展现在大家面前。CPU中集成的高速缓存就属于SRAM(Static Random-Access Memory,静态随机存取存储器)。在一些无DRAM缓存设计的固态硬盘(如东芝TR200)中,主控内会集成小容量的SRAM缓存。

SRAM存储单元是由6个晶体管制成的简单锁存器,无需刷新和回写就能保留数据,速度比DRAM更快。但由于集成度低,SRAM容量比DRAM小,成本比DRAM高,所以在大多数地方只能以较小的容量作为高速缓存使用。断电后SRAM中的数据也会丢失,同样属于"易失性"存储器。

Flash:闪存存储器

铠侠(原东芝存储)在上世纪80年代发明NAND型闪存。闪存可以在断电后持续保存数据,但是它无法随机存取,最小读写单元是Page页(早期为4KB,当前多为16KB),最小擦除单位是Block块(当前为16MB左右)。

闪存使用特殊的"浮栅层"(Floating Gate)来存储数据,氧化物层(Oxide Layer)的存在可防止浮栅层中电子流失,这是它能够在断电后继续保存数据的原因。

Flash闪存的1个存储单元存储多位数据,这是DRAM和SRAM都做不到的。根据浮栅层中电子的多少,每个存储单元可以表达1比特(SLC)、2比特(MLC)、3比特(TLC)或4比特(QLC)数据。

闪存的写入和擦除基于量子隧道效应,每个单元可以存储的数据越多,对跃迁到浮栅层的电子数量控制越严苛,写入速度也越慢,所以TLC的闪存性能优于QLC。

当前的3D闪存在结构上跟传统闪存又有所不同。3D闪存的单元排列从水平变更为立体的同时,闪存单元的结构也变为类似于圆柱形,Floating Gate浮栅也被Charge Trap电荷捕获结构代替。

新一代固态硬盘上已经用上96层堆叠技术的3D闪存,而下一代100+层堆叠的闪存也已完成研发并将很快进入量产阶段,在容量、性能和成本上取得新的进步。

总结:DRAM是内存(动态刷新,断电丢数据),SRAM是高速缓存(无需刷新,断电丢数据),Flash(无需刷新,断电不丢数据)通常作为硬盘。从容量上看SRAM<DRAM<Flash,从性能上看则正好反过来。DRAM和SRAM断电后数据会丢失,写入Flash闪存的数据则可以在断电后持续保留。

刨根问底:闪存是如何存储和记录数据的

手机和固态硬盘中用来存储数据的NAND闪存问世于1987年,首次量产则是在4年之后。当年的东芝闪存部门如今已经成为新的KIOXIA铠侠,不过NAND闪存的工作原理至今没有发生太多的变化。

在每个闪存芯片中都有海量的存储单元,下图是一个闪存存储单元示意图,从上到下分别是控制栅极(Control Gate)、氧化层、浮栅层(Floating Gate)、隧道氧化层和衬底(Substrate)。左侧是源级(Sources)右侧是漏级(Drain),电流只能从源级向漏级单向传导。

闪存记录数据的关键在于浮栅层,当其中被充满电子时是已编程(写入)状态,代表二进制0;当其中没有电子时是已擦除状态,代表二进制1。

上面的这个0和1的逻辑听起来有些颠倒,不过当你了解到闪存的读取原理后就会觉得这样才是对的:源级到漏级之间没有电流(0),说明浮栅中有电子。

当源级到漏级之间有电流(1),说明浮栅里没有电子。

以上就是从闪存中读取数据的原理,往复杂了说它涉及到MOS管等复杂的半导体知识,但是如果朝简单的方向理解,我们也能轻松理解闪存表达数据的原理。

接下来是向闪存单元中写入数据的方法:在控制栅极和漏级之间施加一个20V高电压,就可以引发量子隧道效应,使电子进入到浮栅层中。由于氧化隧道层的绝缘效果,进入到浮栅层的电子不容易流失掉,所以闪存可以在断电后继续保留数据。

反过来也可以使用20V高电压反向将浮栅层中的电子"抽离"出去,这就是闪存的擦除。闪存的独特工作原理决定了闪存单元在写入之前必须经过擦除,而不能像磁记录那样直接覆盖写入。

对于原始的SLC闪存而言,一个存储单元只需保留一比特数据,非0即1,判断起来非常简单。SLC闪存速度快、寿命长,但容量小、每GB容量成本过高,不适合家用电脑的固态硬盘。

MLC闪存可以在每个存储单元中存储2比特数据,即00、01、10、11四种状态,浮栅层中的电荷等级需要更加精细化。

到了TLC闪存(3比特/单元),状态数量达到8种,而QLC闪存(4比特/单元)的状态数量高达16种。

2007年铠侠的前身东芝存储率先提出了三维闪存层叠技术,现在的3D闪存已经使用Charge Trap电荷捕获层取代原有Floating Gate浮栅层,存储单元的结构也发生了较大的变化,使得闪存写入速度更快,可靠性更强,功耗水平更低。铠侠TC10、RC10、RD10使用的都是3D TLC闪存。

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